BS EN 153000-1998 电子元器件质量评定协调体系.通用规范.分立压力接触电源半导体装置(合格鉴定批准)

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 17:26:17  浏览:9196   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Genericspecification:discretepressurecontactpowersemiconductordevices(qualificationapproval)
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.通用规范.分立压力接触电源半导体装置(合格鉴定批准)
【标准号】:BSEN153000-1998
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1998-07-15
【实施或试行日期】:1998-07-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;质量保证体系;尺寸;电气试验;质量评估;半导体器件;质量保证;认可试验;漏泄试验;合格;评估的质量;外观检查(试验);整流二极管;作标记;半导体闸流管;无损检验;灌封式的;详细规范;耐久试验;晶体管;电子设备及元件;资格鉴定
【英文主题词】:Assemblies;Diodes;Discretedevices;Electronicequipmentandcomponents;Genericspecification;Powersemiconductors;Pushcontacts;Qualificationapproval;Quality;Rectifierdiodes;Semiconductordevices;Specification;Thyristors;Transistors
【摘要】:Appliestorectifierdiodes,transistors,thyristorsandtheirderivatives.Therequirementsalsocoverencapsulatedassembliesbutnottostacksorassembliesmadewiththeseencapsulatedcomponents.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:46P;A4
【正文语种】:英语