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NF C93-622-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第2部分:石英晶体器件动态电容测量的相位补偿法

作者:标准资料网 时间:2024-05-29 13:00:44  浏览:8436   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Measurementofquartzcrystalunitparametersbyzerophasetechniqueinapi-network-Part2:phaseoffsetmethodformeasurementofmotionalcapacitanceofquartzcrystalunits.
【原文标准名称】:用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第2部分:石英晶体器件动态电容测量的相位补偿法
【标准号】:NFC93-622-2001
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2001-07-01
【实施或试行日期】:2001-07-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L21
【国际标准分类号】:31_140
【页数】:14P;A4
【正文语种】:其他


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基本信息
标准名称:光学、数显分度台校准规范
英文名称:Calibration Specification for Optical & Digital Dividing Tables
中标分类: 综合 >> 计量 >> 光学计量
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量
替代情况:JJG 305-1992
发布部门:国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2004-03-02
实施日期:2004-09-02
首发日期:
作废日期:
归口单位:全国几何量角度计量技术委员会
起草单位:中国航空工业第一集团公司第三○四研究所
起草人:陈照聚、张玉文
出版社:中国计量出版社
出版日期:2004-09-02
页数:15页
书号:155026-1787
适用范围

本标准适用于最小分度值大于或等于0.5",测量范围0°~360°的光学、数显分度台的校准。

前言

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引用标准

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所属分类: 综合 计量 光学计量 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量
【英文标准名称】:ElectricalandElectronicsDiagrams(includingReferenceDesignationClassDesignationLefters),GraphicSymbolsfor
【原文标准名称】:电气和电子图示用图形符号(包括参考标注类的标注文字)
【标准号】:ANSI/IEEE315-1975
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1975
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:图示;图形表示;图形符号
【英文主题词】:diagrams;graphicrepresentation;graphicsymbols
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:01_080_40;29_020
【页数】:
【正文语种】:英语



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